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       應用光電直讀光譜分析方法測定試樣中元素含量時，所得結果與真實含量通常是不一致，總是存在著一定的誤差和偏差。這里所講的誤差是指每次測量的數值與真值之間的差值。而偏差是指每次測得的數值與多次測量平均值之差。

       根據誤差的性質及其產生原因，誤差可分為：系統誤差（恒定誤差）、偶然誤差（隨機誤差）和過失誤差三種。

       系統誤差：是指在一定試驗條件下由某個或某些因素按照某一確定的規律起作用而形成誤差，它決定了測試結果的準確度，系統誤差的大小和符號在同一試驗中是恒定的，改變試驗條件時按照確定的規律變化。重復測定不能發現和減少系統誤差，只有改變試驗條件才能發現系統誤差。

       測定結果與真實值偏離的程度越小，測定結果越正確，系統誤差就越小，一但發現系統誤差， 定要找出原因，設法避免和校正。

直讀光譜儀

       系統誤差的來源

       1.分析試樣和標準樣品的性質不同

       在做鋼鐵和合金分析時，分析試樣和標準樣品的性質不同是經常存在；澆注狀態的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態的鋼樣金屬組織結構是不相同的；在光電直讀光譜分析中的某些元素測定的結果也不相同，從而引入了系統誤差。

       2.試樣中除基體元素和分析元素以外的其他元素。若標樣和試樣中的第三元素的含量和化學組成不完全相同，亦有可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。

       3.光譜標樣在化學分析定值時帶來的系統誤差。

       4.未知元素譜線的重疊干擾。例如C193.0nm受鋁元素譜線的重疊干擾。在取樣時為了脫氧效果好，往往插入少量鋁。鋁的存在引入系統誤差。

       5.分析過程中，工作條件的變化沒有覺察出來，分析人員的習慣性偏向，讀數經常性偏高或偏低，也會產生系統誤差。

       以上例舉了一些造成系統誤差的原因，在實際工作中原因是多方面的。要消除系統誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規定要求。為了檢查系統誤差，就需要由化學分析多次校對結果。也可以用同一方法來進行隨機抽樣檢查，找出系統誤差的原因和采取措施。